เครื่องทดสอบประเภทสัญญาณระดับไมโคร
หรือ Micro Signal Type Tester จะเป็บเครื่องวัดสัญญาณระดับไมโคร ซึ่งที่ใช้งานทางด้าน R&D เพื่อวิเคราะห์เกี่ยวกับอุปกรณ์จำพวกเซมิ-คอนดักเตอร์ ไม่ว่าจะเป็นการจ่ายให้กับอุปกรณ์นั้นหรือการวัดในเวลาเดี่ยวกัน เช่น
1. เครื่องวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะ C-V ของเซมิคอนดักเตอร์
2. เครื่อง Source Measure Unit ความแม่นยำสูง
3. เครื่องอิเล็กโทรมิเตอร์/fA Meter/ pA Meter / High Resistance Meter
1. เครื่องวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะ C-V ของเซมิคอนดักเตอร์
2. เครื่อง Source Measure Unit ความแม่นยำสูง
3. เครื่องอิเล็กโทรมิเตอร์/fA Meter/ pA Meter / High Resistance Meter
>> หน้าจอสัมผัสแบบ capacitive ขนาด 10.1 นิ้ว ความละเอียด 1280*800 ระบบ Linux
>> สถาปัตยกรรม CPU คู่ ความเร็วในการทดสอบที่เร็วที่สุด 0.56ms
>> วิธีทดสอบสามวิธี : การทดสอบเฉพาะจุด การสแกนรายการ และการสแกนกราฟิก (ตัวเลือก)
>> พารามิเตอร์ปรสิตสี่ตัว (Ciss, Coss, Crss, Rg) ถูกวัดและแสดงบนหน้าจอเดียวกัน
>> การออกแบบแบบบูรณาการ: LCR + แหล่งไฟฟ้าแรงสูง + การสลับช่องการทดสอบมาตรฐาน 2 แชนเนล ซึ่งสามารถทดสอบอุปกรณ์ 2 เครื่องหรือ
อุปกรณ์ดูอัลชิปพร้อมกันได้ โดยช่องสัญญาณสูงสุด 6 แชนเนลที่สามารถทำได้จะถูกขยายพารามิเตอร์ช่องจะถูกจัดเก็บแยกต่างหาก
>> การชาร์จเร็วเพื่อลดเวลาในการชาร์จตัวเก็บประจุ และช่วยให้ทดสอบได้รวดเร็ว
>> การทดสอบการเปิดเครื่องอย่างรวดเร็วการตั้งค่าการหน่วงเวลาอัตโนมัติอคติสูง: VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V/3000V
>> สถาปัตยกรรม CPU คู่ ความเร็วในการทดสอบที่เร็วที่สุด 0.56ms
>> วิธีทดสอบสามวิธี : การทดสอบเฉพาะจุด การสแกนรายการ และการสแกนกราฟิก (ตัวเลือก)
>> พารามิเตอร์ปรสิตสี่ตัว (Ciss, Coss, Crss, Rg) ถูกวัดและแสดงบนหน้าจอเดียวกัน
>> การออกแบบแบบบูรณาการ: LCR + แหล่งไฟฟ้าแรงสูง + การสลับช่องการทดสอบมาตรฐาน 2 แชนเนล ซึ่งสามารถทดสอบอุปกรณ์ 2 เครื่องหรือ
อุปกรณ์ดูอัลชิปพร้อมกันได้ โดยช่องสัญญาณสูงสุด 6 แชนเนลที่สามารถทำได้จะถูกขยายพารามิเตอร์ช่องจะถูกจัดเก็บแยกต่างหาก
>> การชาร์จเร็วเพื่อลดเวลาในการชาร์จตัวเก็บประจุ และช่วยให้ทดสอบได้รวดเร็ว
>> การทดสอบการเปิดเครื่องอย่างรวดเร็วการตั้งค่าการหน่วงเวลาอัตโนมัติอคติสูง: VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V/3000V
>> หน้าจอสัมผัสแบบ capacitive ขนาด 7 นิ้ว ความละเอียด 800×480 ระบบปฏิบัติการลินุกซ์
>> เอาท์พุทและการวัดกำลังที่มีความแม่นยำสี่ควอแดรนท์
>> เอาท์พุทและการวัดช่องสัญญาณเดี่ยว/คู่แรงดันไฟ DC สูงสุด ±210V, กระแสไฟ DC ±3A/พัลส์ ±10.5A
>> ความละเอียดในการวัดขั้นต่ำ 10fA/100nV (6 1/2 หลัก)
>> ความละเอียดการจ่ายขั้นต่ำ 10fA/100nV (6 1/2 หลัก) อัตราการสุ่มตัวอย่างสูงถึง 1,000,000 จุด/วินาที
>> การสร้างรูปคลื่นตามอำเภอใจฟังก์ชั่นสแกนรายการ (ช่วงเวลาขั้นต่ำ 1μs)
>> การสร้างเส้นโค้ง I/V โดยตรงของไดโอด, ไตรโอด, หลอด MOS และ IGBT
>> เอาท์พุทและการวัดกำลังที่มีความแม่นยำสี่ควอแดรนท์
>> เอาท์พุทและการวัดช่องสัญญาณเดี่ยว/คู่แรงดันไฟ DC สูงสุด ±210V, กระแสไฟ DC ±3A/พัลส์ ±10.5A
>> ความละเอียดในการวัดขั้นต่ำ 10fA/100nV (6 1/2 หลัก)
>> ความละเอียดการจ่ายขั้นต่ำ 10fA/100nV (6 1/2 หลัก) อัตราการสุ่มตัวอย่างสูงถึง 1,000,000 จุด/วินาที
>> การสร้างรูปคลื่นตามอำเภอใจฟังก์ชั่นสแกนรายการ (ช่วงเวลาขั้นต่ำ 1μs)
>> การสร้างเส้นโค้ง I/V โดยตรงของไดโอด, ไตรโอด, หลอด MOS และ IGBT
>> หน้าจอสัมผัสแบบ capacitive ขนาด 5.0 นิ้ว ความละเอียดในการวัด 6½ หลัก
>> สี่โหมดการวัด : เครื่องวัดความต้านทานสูง, โวลต์มิเตอร์, แอมมิเตอร์, การวัดกระแสและแรงดันไฟฟ้าอิสระของเครื่องวัดไฟฟ้า
>> แหล่งจ่ายแรงดันไฟฟ้าในตัว: ±1000V, ความละเอียด: 700μV
>> ช่วงกระแส: 2pA-20mA ความละเอียดกระแสสูงสุด 1fA
>> แรงดันความต้านทานภายในลดลงในช่วงกระแสต่ำสุด 200TΩ
>> รองรับการวัดอุณหภูมิและความชื้นได้ถึง 20V
>> มุมมองโดเมนเวลา จับเอฟเฟกต์สัญญาณชั่วคราว และเลือกข้อมูลการวัดที่ระบุเพื่อรองรับการบันทึกข้อมูล
>> พร้อมกล่องทดสอบการป้องกันเฉพาะ
>> สี่โหมดการวัด : เครื่องวัดความต้านทานสูง, โวลต์มิเตอร์, แอมมิเตอร์, การวัดกระแสและแรงดันไฟฟ้าอิสระของเครื่องวัดไฟฟ้า
>> แหล่งจ่ายแรงดันไฟฟ้าในตัว: ±1000V, ความละเอียด: 700μV
>> ช่วงกระแส: 2pA-20mA ความละเอียดกระแสสูงสุด 1fA
>> แรงดันความต้านทานภายในลดลงในช่วงกระแสต่ำสุด 200TΩ
>> รองรับการวัดอุณหภูมิและความชื้นได้ถึง 20V
>> มุมมองโดเมนเวลา จับเอฟเฟกต์สัญญาณชั่วคราว และเลือกข้อมูลการวัดที่ระบุเพื่อรองรับการบันทึกข้อมูล
>> พร้อมกล่องทดสอบการป้องกันเฉพาะ
